ГОСТ 26222-86

Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые. Методы измерения параметров


Обозначение:	ГОСТ 26222-86

Статус:	действующий

Название рус.:	Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые. Методы измерения параметров

Название англ.:	Ionizing-radiation semiconductor detectors. Methods of parameters measurement

Дата актуализации текста:	27.10.2010

Дата актуализации описания:	27.10.2010

Дата введения в действие:	01.07.1987

Область и условия применения:	Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые детекторы ионизирующих излучений (ППД) и устанавливает методы измерения их электрических и радиометрических параметров: темнового тока; емкости (гармонический и зарядовый методы); энергетического разрешения; энергетического эквивалента шума (метод непосредственного измерения и спектрометрический метод); энергетического эквивалента толщины метрвого слоя; дискретной чувствительности регистрации; средней частоты следования фоновых импульсов; радиационной помехоустойчивости; аналоговой чувствительности регистарции (статический и импульсный методы); времени нарастания сигнала; длительсности фронта нарастания сигнала. Стандарт не распространяется на ППД, изготавливаемые по ГОСТ 18398-81, а также на запоминающие ППД

Взамен:	ГОСТ 17619-72 ГОСТ 26222-84